全扫描结构在MCU设计中的应用
Application of Full Scan Technology in MCU Design
摘要
本文通过在8bit RISC MCU中用SYNOPSYS公司的DFT COMPILER进行扫描设计实际工程实践基础上，总结出了在复杂芯片中进行扫描链插入时所遇到的具有普遍意义的问题,提出了相应的解决方法。Abstract
This paper summarize the universal problems faced in the process of full scan insertion in a 8bit RISC MCU design with SYNOPSYS DFT COMPILER and the resolutions were proposed. 关键词
可测性设计、全扫描、MCUKey words
design-for-testability/ full scan/ MCU引用本文复制引用
刘文峰.全扫描结构在MCU设计中的应用[EB/OL].(2007-02-03)[2025-12-14].http://www.paper.edu.cn/releasepaper/content/200702-30.学科分类
微电子学、集成电路
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