非等高电离层薄壳模型研究

本文提出了一种非等高电离层薄壳模型，并基于该模型开发了新的全球定位系统硬件偏差和电离层电子密度解算算法。在本模型中，首先利用国际参考电离层模型提供的电子密度剖面数据进行计算得到薄壳高度，然后一方面利用计算得到的薄壳高度对电离层高度变化规律进行了分析；另一方面用计算得到的薄壳高度代替以往使用的常数电离层壳高度，得到非等高电离层薄壳模型。分别基于等高模型和非等高模型对2014年的日本全球导航系统观测网的硬件偏差和电离层总电子含量进行计算，并对计算结果进行统计分析，发现由不同模型计算得到的硬件偏差的平均标准差相差大约2%；由不同模型反演得到的总电子含量大约相差0.5 TECU；由日本全球导航系统观测网观测数据反演得到的总电子含量和国际参考电离层模型相差可达10 TECU；由非等高模型得到的总电子含量和国际参考电离层模型更加接近。