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80C196单粒子效应测试系统

SINGLE ENVENT EFFECTS MEASUREMENT SYSTEM for 80C196

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英文摘要

微控制器（MCU）辐射效应测试一直是控制系统辐射效应测试的难点。本文以微控制器80C196KC20为研究对象，建立了80C196单粒子效应测试系统，并在锎源进行了80C196KC MCU单粒子效应实验。实验结果表明该系统可以满足80C196 MCU单粒子效应测试的要求。

ccording to the mechanism of Single Event Effect(SEE) in CMOS devices, measurement system of SEE for 80C196 MCU is set up. 252Cf SEE experiments are performed. The result shows that the system can meet the demand of SEE tests for 80C196 MCU basically.

作者：惠卫东、李永宏、张凤祁、何宝平、贺朝会、詹军安、陈伟

作者单位：

学科分类：微电子学、集成电路粒子探测技术、辐射探测技术、核仪器仪表辐射源

中文关键词：微控制器，单粒子效应，锎源

英文关键词：Single Event Effect (SEE) Micro Control Unit (MCU) 252Cf

推荐引用：惠卫东,李永宏,张凤祁,何宝平,贺朝会,詹军安,陈伟.80C196单粒子效应测试系统[EB/OL].(2007-03-28)[2025-08-18].http://www.paper.edu.cn/releasepaper/content/200703-520.点此复制

80C196单粒子效应测试系统

SINGLE ENVENT EFFECTS MEASUREMENT SYSTEM for 80C196

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